發(fā)布時(shí)間：2022-05-23 15:29:01 瀏覽：
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一般來(lái)說(shuō)，當(dāng)測(cè)試電流大于15ma時(shí)，測(cè)試波形具有重復(fù)性，可以相互堆疊。同時(shí)，當(dāng)一個(gè)波形有一個(gè)發(fā)射，三個(gè)反射和脈沖振幅逐漸減弱時(shí)，測(cè)量的距離是從缺陷點(diǎn)到
電纜測(cè)試端的距離；否則，對(duì)于從缺陷點(diǎn)到電纜測(cè)試端的距離，以下測(cè)試方法以缺陷點(diǎn)電阻為基礎(chǔ)：
（1）當(dāng)缺陷點(diǎn)的電阻等于無(wú)限時(shí)，用高壓脈沖法測(cè)量容易發(fā)現(xiàn)斷路缺陷。一般來(lái)說(shuō)，隧道斷路缺陷并不少見(jiàn)。通常，斷路缺陷為相對(duì)或相間高電阻缺陷，相對(duì)或相間低電阻缺陷并存。
(2)當(dāng)缺陷點(diǎn)電阻大于零小于100千歐時(shí)，采用高壓脈沖法容易發(fā)現(xiàn)低阻缺陷。
(3)直閃法可以測(cè)量閃絡(luò)的缺點(diǎn)，這種缺點(diǎn)一般存在于接頭外部，缺點(diǎn)電阻大于100千歐，但數(shù)值變化較大，每次測(cè)量都不確定。
(4)閃絡(luò)性缺陷多發(fā)生在預(yù)防性耐壓試驗(yàn)中，發(fā)作部位多在電纜終端及中直接接頭。
（5）高阻力缺陷可采用閃光法測(cè)量，缺陷點(diǎn)電阻大于100千歐元，值確定，這些設(shè)備可將測(cè)量誤差控制在幾十厘米以內(nèi)，直接發(fā)現(xiàn)缺陷點(diǎn)停止處理，提高缺陷測(cè)量效率，如音頻信號(hào)到
電纜，接受缺陷點(diǎn)信號(hào)測(cè)試技術(shù)，以及CD-12-22電纜缺陷測(cè)試儀的應(yīng)用。
目前流行的測(cè)試方法是閃光測(cè)量方法，包括閃光和直接閃光。常用的是閃光法。為了提高電纜缺陷測(cè)試技術(shù)水平，應(yīng)根據(jù)不同的缺陷性質(zhì)采用不同的方法，不時(shí)引進(jìn)新技術(shù)和新設(shè)備。同時(shí)，我們應(yīng)該探索新設(shè)備的經(jīng)驗(yàn)，開(kāi)發(fā)新的功能。
